芯片推力測試儀?采用電腦控制，實時顯示推、拉力，可記錄推、拉力值以及推、拉力平均值，并由試驗機(jī)軟件導(dǎo)出實驗數(shù)據(jù)。
芯片推力測試儀采用單立柱主體結(jié)構(gòu)，廣泛適用于金屬合金、非金屬材料試樣的拉伸、壓縮、彎曲、剪切、剝離、撕裂等試驗，以及一些產(chǎn)品的特殊試驗。可靠性高，并且容易操作，同時滿足GB、ISO、JIS、ASTM、DIN等多種標(biāo)準(zhǔn)要求，并可根據(jù)用戶需求編輯試驗軟件，定制試驗附具，是各類產(chǎn)品和材料制造商、高等院校、科研單位和各級產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督部門*的精密儀器。
芯片推力測試儀技術(shù)參數(shù)：
1. 產(chǎn)品規(guī)格：MX-0230
2． 等級： 0.5級
3． 負(fù)荷： 2000N
4． 有效測力范圍：0.1/100-99.9899%;
5． 試驗力分辨率，負(fù)荷±500000碼；內(nèi)外不分檔，且全程分辨率不變。
6． 有效試驗寬度：120mm
7． 有效試驗空間：300mm
8． 試驗速度:：0.001~500mm/min(任意調(diào))
9. 速度精度：示值的±0.5以內(nèi)；
10．位移測量精度：示值的±0.5以內(nèi)；
11．變形測量精度：示值的±0.5以內(nèi)；
12．應(yīng)力控速率范圍： 0.005～6FS/S
13．應(yīng)力控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±1%以內(nèi)；速率≥0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±0.5%以內(nèi)；
14．應(yīng)變控速率范圍： 0.002%～6％FS/S
15．應(yīng)變控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±2%以內(nèi)；速率≥0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±0.5%以內(nèi)；
16. 恒力/位移/變形測量范圍：0.5％～99.999％FS
17．恒力/位移/變形測量精度：設(shè)定值＜10％FS時, 為設(shè)定值的±1%以內(nèi)； 設(shè)定值≥10％FS時, 為設(shè)定值的±0.1%以內(nèi)；
18．試臺升降裝置：快/慢兩種速度控制，可點動；
19．試臺安全裝置：電子限位保護(hù)
20．試臺返回：手動可以速度返回試驗初始位置，自動可在試驗結(jié)束后自動返回；
21．試驗定時間自動停車,試驗定變形自動停車,試驗定負(fù)荷自動停車
22．超載保護(hù)：超過負(fù)荷10時自動保護(hù)；
23. 自動診斷功能，定時對測量系統(tǒng)、驅(qū)動系統(tǒng)進(jìn)行過載、過壓、過流、超負(fù)荷等檢查，出現(xiàn)異常情況立即進(jìn)行保護(hù)
23．電源功率： 400W
24．主機(jī)重量： 40kg
25. 電源電壓: 220V（單相）
0513-81526002
0513-81526001
18851312788
