電路芯片拉拔力測試儀主要用于測試芯片的拉拔力測試，先在CCD相機(jī)上觀察先接觸到膠水，然后再拉開，后顯示一個峰值，一般會在5克左右的力為測試合格。
電路芯片拉拔力測試儀MX-0580(單臂）設(shè)備概述：主要適用于試驗(yàn)負(fù)荷低于5000N的各種金屬、非金屬及復(fù)合材料進(jìn)行力學(xué)性能測試和分析研究。具有應(yīng)力、應(yīng)變、荷重、位移四種閉環(huán)控制方式，可求出大力、抗拉強(qiáng)度、彎曲強(qiáng)度、壓縮強(qiáng)度、彈性模量、斷裂延伸率、屈服強(qiáng)度等參數(shù)。根據(jù)GB及ISO、JIS、ASTM、DIN等標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn)和提供檢測數(shù)據(jù)。并能對試驗(yàn)數(shù)據(jù)曲線進(jìn)行疊加分析處理、存儲、打印、繪制曲線，打印完整報告單，進(jìn)行工藝調(diào)整與生產(chǎn)控制。符合《GB/T16491-2008 電子萬能試驗(yàn)機(jī)》標(biāo)準(zhǔn)要求。機(jī)型結(jié)構(gòu)均充分考慮了現(xiàn)代工業(yè)設(shè)計(jì)，人體工程學(xué)之相關(guān)原則，外殼采用合金框架構(gòu)以增強(qiáng)剛度系數(shù)及表面雙層金屬烤漆，延長主機(jī)使用壽命及美化外觀。
芯片壓拔力試驗(yàn)機(jī)MX-0580自動采集處理試驗(yàn)數(shù)據(jù)，繪制多種曲線并打印試驗(yàn)報告。主機(jī)與輔具的設(shè)計(jì)借鑒了國外的*技術(shù)，具有較寬的調(diào)速范圍。采用微機(jī)控制并結(jié)合*的電子控制技術(shù)，實(shí)行標(biāo)準(zhǔn)化、單元化設(shè)計(jì)，具有控制準(zhǔn)確、測量精度高、配置靈活，可輕松實(shí)現(xiàn)附件互換，極易售后服務(wù)等.
電路芯片拉拔力測試儀MX-0580(單臂）技術(shù)參數(shù)：
1. 產(chǎn)品規(guī)格： MX-0580(單臂）
2． 精度等級： 0.5級
3． 大負(fù)荷： 5N、10N、20N、50N、100N、200N、500N、1000N、2000N、5000N（可選）
4． 有效測力范圍：0.1/100-99%;
5． 試驗(yàn)力分辨率，大負(fù)荷±500000碼；內(nèi)外不分檔，且全程分辨率不變。
6． 有效試驗(yàn)寬度：120mm
7． 有效試驗(yàn)空間：800mm
8． 試驗(yàn)速度:：0.001~500mm/min(任意調(diào))
9. 速度精度：示值的±0.5%以內(nèi)；
10．位移測量精度：示值的±0.5%以內(nèi)；
11．變形測量精度：示值的±0.5%以內(nèi)；
12．應(yīng)力控速率范圍： 0.005%～6％FS/S
13．應(yīng)力控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±1%以內(nèi)；速率≥0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±0.5%以內(nèi)；
14．應(yīng)變控速率范圍： 0.002%～6％FS/S
15．應(yīng)變控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±2%以內(nèi)；速率≥0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±0.5%以內(nèi)；
16. 恒力/位移/變形測量范圍：0.5％～99％FS
17．恒力/位移/變形測量精度：設(shè)定值＜10％FS時, 為設(shè)定值的±1%以內(nèi)； 設(shè)定值≥10％FS時, 為設(shè)定值的±0.1%以內(nèi)；
18．試臺升降裝置：快/慢兩種速度控制，可點(diǎn)動；
19．試臺安全裝置：電子限位保護(hù)
20．試臺返回：手動可以高速度返回試驗(yàn)初始位置，自動可在試驗(yàn)結(jié)束后自動返回；
21．試驗(yàn)定時間自動停車,試驗(yàn)定變形自動停車,試驗(yàn)定負(fù)荷自動停車
22．超載保護(hù)：超過大負(fù)荷10%時自動保護(hù)；
23. 自動診斷功能，定時對測量系統(tǒng)、驅(qū)動系統(tǒng)進(jìn)行過載、過壓、過流、超負(fù)荷等檢查，出現(xiàn)異常情況立即進(jìn)行保護(hù)
24．電源功率： 750W
25．主機(jī)重量： 100kg
26. 電源電壓: 220V（單相）
27. 主機(jī)尺寸：470*400*1510mm
0513-81526002
0513-81526001
18851312788
